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HZ-15 電場和磁場近場探頭組都為確保易用性而設計，可用于測量印刷電路板以及組件上的高頻磁場（低 30 MHz）。 磁場探頭包含特殊的電屏蔽探頭端。 羅德與施瓦茨針對近場測量任務設計了多個不同的探頭形狀

傳導干擾（CE）測試系統(tǒng)，用來測量被試設備（EUT）在正常工作狀態(tài)下通過電源線、信號/控制線對周圍環(huán)境所產(chǎn)生的傳導干擾是否符合要求。如果干擾信號過大，就會影響整個電網(wǎng)的用電質(zhì)量，從而干擾到其他電器的正常運行。

F-61D FCC電流監(jiān)測探頭用于實驗室和現(xiàn)場測試。該電流探頭外徑較小，約為71毫米，內(nèi)徑為32毫米?？沙惺苤绷麟娏鞲哌_200安培，頻率范圍為400赫茲。

F-230309-1005-1 FCC電流監(jiān)測探頭用于測量10 kHz 及以下的共模電流。它適用于實驗室供經(jīng)過專業(yè)培訓的射頻技術人員使用以獲得在實驗室中理想的工程實踐。

F-250606-1008-1 FCC大電流注入探頭是一款大直徑、高效率的注入探頭。適用于工作頻率范圍為4 kHz - 400 MHz。它適用于射頻技術人員在實驗室中使用，以獲得較佳的工程實踐。